Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/8890
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorNekrasov, V.-
dc.contributor.authorBorodenko, Yu.-
dc.contributor.authorKudin, Alexander M.-
dc.contributor.authorBelogub, V.-
dc.contributor.authorDidenko, A.-
dc.contributor.authorAndrushchenko, L.-
dc.date.accessioned2019-04-20T07:08:10Z-
dc.date.available2019-04-20T07:08:10Z-
dc.date.issued2006-
dc.identifier.citationAbstracts International Conf. on Luminescent Detectors and Transformers of Ionizing Radiation (LUMDETR 2006) Lviv. – P. 243ru_RU
dc.identifier.urihttp://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/8890-
dc.descriptionдоклад на межд. конференции LUMDETR-2006ru_RU
dc.description.abstractSpectrometric Characteristics of Scintillation Photodiode Detectors Based on CsI:Tl Crystals has been considered. Recently the perceptible progress has been achieved in development of scintillation photodiode detectors. Improvements has been made in crystal growth as well as surface treatment of CsI:Tl crystal and packing the sample in assembly with photodiodes. Main recent results are presented in a table in comparison with known data. As a rule we used silicon PIN photodiodes, for instance Hamamatsu S3590-08. It has bee shown that energy threshold for detection of low energy photons by scintillation photodiode detectors is widened from 50 to 17 keV; very good energy resolution (19.2%) and the peak to valley ratio (38) are obtained for 59.6 keV ( 241 Am) gamma-raysru_RU
dc.language.isoen_USru_RU
dc.publisherLviv LNUru_RU
dc.subjectCsI Crystalru_RU
dc.subjectPhotodiode Detectorru_RU
dc.subjectSpectrometric Characteristicru_RU
dc.subjectEnergy thresholdru_RU
dc.titleSpectrometric Characteristics of Scintillation Photodiode Detectors Based on CsI:Tl Crystalsru_RU
dc.typeOtherru_RU
Розташовується у зібраннях:Кафедра фізико-математичних дисциплін

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Lumdetr_Lviv.pdf212,38 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.